厂商 SDD 波形资料展示的是一次光子事件对应一个小阶跃，阶跃累积后触发大复位；SDD 与 Si-PIN 的典型输出方向不同，经过模拟链路后还可能再次反相。
因此确定 DPP 极性时，应从实际 ADC 输入和输出编码追踪，不能只看探测器类别。阶段 B 的固定正阶梯候选也不能直接替代真实前放验证。
PA-210/PA-230、典型 Scope Traces 和《充分发挥 Amptek 探测器性能》可分别用于核对接口、波形和噪声/成形取舍。供电与探测器偏压必须按具体器件文档确认。
原目录的 .sal 捕获与 .mca 样本保留供分析，但未据文件名判定它们就是最新阶段 E 候选的验收数据。
资料来源
X射线探测/Typical+SDD+and+FastSDD+Scope+Traces.pdfX射线探测/pa210-pa230-specs-sept-2017.pdfX射线探测/充分发挥Amptek探测器性能.pdf